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arXiv · AI· Yuanting Fan, Jun Liu, Bin-Bin Gao, Xiaochen Chen, Yuhuan Lin, Zhewei Dai, Jiawei Zhan, Chengjie Wang·· 9 小时前AI 评分26

UniDG: 通过缺陷-上下文编辑实现统一缺陷生成

UniDG: Unified Defect Generation via Defect-Context Editing

AI 导读

研究提出UniDG统一缺陷生成模型及包含30万条数据的UDG数据集,用于异常检测中的视觉缺陷生成。 模型采用MM-DiT注意力融合多模态条件,经两阶段训练后,在合成质量及下游异常检测任务中优于现有少样本基线。

来源:arXiv · AI · arxiv.org